FAIRCHILD Semiconductor AN-7516 应用手册

本应用笔记介绍了一种用于测试无热沉功率MOS晶体管的安全工作区域的方法。该方法不使用热沉,而是依赖于器件封装的热电容(CT),以便在SOA测试期间预测器件外壳的温度。


品牌
Fairchild
文件格式
PDF
发布时间
2012年7月12日
更新时间
2023年9月30日
MD5 校验值
C74D0A3DD43A51E65F1ADA4708F9C2D9
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