Agilent Resolving Potentially Harmful Azo-Colorant Amines Using the Distinct Selectivities of the Agilent ZORBAX Eclipse Plus Phenyl-Hexyl and StableBond Phenyl Columns 说明书 这篇文章介绍了如何使用Agilent ZORBAX Eclipse Plus Phenyl-Hexyl和StableBond Phenyl色谱柱来分离可能含有有害的偶氮染料胺
Agilent Scanning Microwave Microscopy 说明书 本文档介绍了Agilent Technologies' Scanning Microwave Microscope (SMM)，这是一款新的扫描探针显微镜 (SPM)，它结合了微波矢量网络分析仪 (VNA) 的无线电波测量能力和原子力显微镜 (AFM) 的纳米分辨率和埃计量级定位能力。Agilent VNAs 是成熟的、高度复杂的特性分析仪器，可进行精确、校准的复数比率测量。这款测量能力，可将 AFM 尖端转换为 SMM 唯一的 SPM，从而能够进行电气特性的校准和可追溯测量，如阻抗和电容，具有高空间分辨率。
Agilent Carbon Nanotubes Tips for MACMode AFM 说明书 本文介绍了碳纳米管尖端在MAC模式AFM测量液体应用中的应用。碳纳米管尖端具有尖锐的几何形状、固有的电导性和机械弹性，能够解决传统AFM尖端磨损问题，并成功应用于硅表面的光刻氧化。
Agilent GC/MS Analysis of PCBs in Waste Oil Using the Backflush Capability of the Agilent QuickSwap Accessory 该文件介绍了在分析废油中的多氯联苯(PCBs)时使用Agilent QuickSwap附件的回冲功能。通过使用QuickSwap附件而不是传统的高温烘烤程序，可以显著减少柱和检测器的污染，并提高样品通量。
Agilent Scanning Microwave Microscopy Application Note 扫描微波显微镜模式是一种新的扫描探针显微镜(SPM)，它结合了微波矢量网络分析仪(VNA)的无线电波测量功能和原子力显微镜(AFM)的纳米分辨率和埃级定位功能。
Agilent High-Resolution Analysis of Taxanes Using Rapid Resolution HT (1.8 μm) Agilent Eclipse Plus Phenyl-Hexyl Columns 本应用说明文件介绍了如何使用Agilent ZORBAX Rapid Resolution High Throuhput (RRHT) Eclipse Plus Phenyl-Hexyl 柱色谱柱对13种紫杉醇衍生物进行高分辨率分析。使用改进的Eclipse Plus Phenyl-Hexyl柱色谱柱、梯度分离、G1315SL二极管阵列检测器和Agilent G1956B 单四极质谱仪，可实现对所有峰的高分辨率分析 (Rs = 2)。
Agilent Identification of metabolites by means of triple quadrupole mass spectrometry 本文介绍了使用Agilent 6410B三重四极质谱仪的不同扫描模式进行代谢物鉴定的方法，以及使用Agilent 1200系列Rapid Resolution液相色谱系统在Agilent ZORBAX Rapid Resolution高通量柱上分离复杂混合物的方法。同时还介绍了Agilent MassHunter Workstation软件用于数据采集和定性数据分析的方法。
Agilent Capillary Flow Technology for GC/MS: efficacy of the simple Tee configuration for robust analysis using rapid backflushing for matrix elimination 此应用说明了使用压力控制tee (PCT) 配置在生物样本中改进运行到运行响应稳健性的提高。
Agilent Rapid IgM Quantification in Cell Culture Production and Purification Process Monitoring Using the Agilent Bio-Monolith QA Column 该笔记介绍了使用安捷伦Bio-Monolith QA柱对细胞培养产物和纯化工艺进行快速IgM定量的方法。
Agilent Determination of 21 Trace Impurities in High-Purity Ammonium Paratungstate by the Agilent High-Matrix Introduction Accessory for the 7500cx ICP-MS 本文介绍了一种使用 Agilent 7500cx ICP-MS 配备高矩阵引入 (HMI) 系统测量高纯度铵偏钨酸盐 (APT) 中 21 种痕量元素的简单、健壮和可靠的方法。HMI 是一种专为高总溶解固体 (TDS) 浓缩样品设计的新样品引入附件。比较使用不同 APT 样品消化方法获得的结果表明，将材料溶解在加热的 4% H2O2 中可最小化磷和硅等难处理元素的干扰形成。直接使用 HMI 的超强型模式分析含 1% TDS 的 APT 样品。结果使用标准添加法 (MSA) 计算。使用 Agilent 7500cx 的标准组件 Octopole Reaction System (ORS) 去除了钙、钾、铁和硅等具有挑战性的元素的干扰。包括样品制备和分析时间在内的短周转时间表明该方法适用于现场测试。
Agilent Rapid Human Polyclonal IgG Quantification Using the Agilent Bio-Monolith Protein A HPLC Column 该应用说明介绍了如何使用Agilent Bio-Monolith Protein A HPLC柱进行人多克隆IgG的快速分析分离和定量。该方法可以用于从复杂混合物中分离IgG，也可以用于监测大规模IgG生产期间的酵母发酵浓度。
Agilent Ultratrace Analysis of Solar (Photovoltaic) Grade Bulk Silicon by ICP-MS 本应用说明介绍了一种利用Agilent 7500cs ICP-MS测量光伏级硅中超痕量元素杂质的新定量方法。在样品预处理阶段特别注意了对硼（易挥发元素）和磷（受Si基干扰）的分析，这对行业来说极为重要。所有元素的良好回收结果验证了样品制备策略。列出了13种不同Si样品中存在的一系列元素的示例数据，以及检测限列表。在固体中B和P可以测定到低ppb水平，其他研究的元素可以测定到ppt水平。
