Philips Semiconductors Matched quad high-performance low-voltage operational amplifier NE/SA5234 数据手册 1
Philips Semiconductors Matched quad high-performance low-voltage operational amplifier NE/SA5234 数据手册 1
PHILIPS Dual high-performance operational amplifier NE/SA/SE5512 数据手册 NE/SA/SE5512是一款双通道高性能运算放大器，具有低输入偏置电流、低输入电压偏置、低输入电压噪声、高电压增益和大输出驱动能力等特点。
PHILIPS Quad high-performance operational amplifier NE/SE5514 数据手册 NE/SE5514是一款四路高性能运算放大器，具有低输入偏置电流和低偏移电压。它的引脚布局与LM324/LM348相同，可以直接替代，提高双电源应用的系统性能。输出特性类似于µA741，但具有改进的斜率和驱动能力。
PHILIPS Quad high-performance operational amplifier NE/SE5514 数据手册(1) NE/SE5514是一款高性能四通道运算放大器，具有低输入偏置电流和低失调电压。
German version - Agilent GC/MS Instrument Portfolio Brochure 说明书 Agilent GC/MS系统是一款行业领先的GC/MS系统，可提供可靠、一致和经济的分析。
Agilent German version- Cary 100/300 Series UV-Vis Spectrophotometers brochure 说明书 Agilent Cary 100/300 UV-VIS Spektralphotometer是灵活、精确和直观的设备，适用于各种应用。它们具有多种样品处理选项、高灵敏度和出色的光度测量性能，可提供可信赖的结果。
Agilent German version - Cary 4000/5000/6000i Series UV-Vis-NIR Spectrophotometers brochure 说明书 Cary 4000/5000/6000i UV-Vis-NIR 光谱光度计是业界领先的高精度、灵活性和性能的 UV-Vis-NIR 光谱光度计，旨在满足当今和未来的需求。
Agilent German version - Compliance Services Portfolio: Enterprise Edition 说明书 该文件介绍了Agilent ComplianCe Services Enterprise Edition的设备合格性验证服务。该服务可以与各种不同品牌和型号的设备兼容，帮助优化企业的合规流程，节省时间和金钱。
German version - Agilent bulk GC supplies brochure 说明书 Agilent GC 配件现已提供经济实惠的大包装, 不影响用户体验、清洁度和质量。产品包括 5 μL 和 10 μL 容量, 各种针头规格, 可满足用户各种需求。
Agilent German Version - Agilent Advantage Bronze 说明书 Agilent Advantage Bronze 是一项高价值的“全包式”维修服务，包括优先待遇、现场维修、更换所需的备件、电话支持、远程专家协助、详细报告和设备更换。
Agilent German version - Cary Eclipse fluorescence spectrophotometer brochure 说明书 Agilent Cary Eclipse 荧光光谱仪是一种灵敏、精确、灵活的荧光光谱仪，可满足当前和未来的需求。该仪器具有精确的温度控制、无样品光漂白和广泛的测量选项，可确保您可以依赖 Agilent Cary Eclipse 的结果。
Agilent German version - Cary 610/620 Series FTIR Microscopes and Imaging Systems brochure 说明书 Agilent Cary 610/620 Ftir-Mikroskope是市场上性能最强大、最多功能的FTIR显微镜和光谱成像系统之一。它们与Agilent Cary 600 Ftir系列设备一起使用，适用于聚合物/材料测试、制药、生物技术、化学和法医领域的研究。Agilent Cary 610/620 Ftir-Mikroskope具有出色的灵敏度、高光谱和空间分辨率，可缩短测量时间并显著提高生产效率。它们具有多种测量模式，包括透射、反射、减弱全反射（ATR）和倾斜入射角。通过ATR显微和宏观成像，可以在缩短样本制备时间和改善空间分辨率的同时扩展成像测量。可通过视场孔径查看整个样品，并快速选择与测量相关的图像区域。Cary 610可以扩展为Cary 620，以满足新应用要求的灵活性。
