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更新: 27 September, 2023
SX1934B型数字式四探针测试仪是一款多用途综合测量装置，可测量半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻，适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位的测试需求。
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MD5: 1871A165B8CBD1D801554319A3D54CCA
发布时间: 17 October, 2022
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