ST AN2668 应用笔记

更新: 28 September, 2023

STMicroelectronics的Medium和High-density STM32F101xx和STM32F103xx Cortex™-M3基于微控制器具有高达Msamples/s的12位增强ADC采样。在大多数应用中，这种分辨率已经足够，但在某些需要更高精度的情况下，可以实现过采样和抽取输入信号的概念，以节省外部ADC解决方案的使用并降低应用的功耗。本应用笔记提供了两种提高ADC分辨率的方法。这些技术都基于相同的原理：通过最大1 MHz ADC能力对输入信号进行过采样并抽取输入信号以增强其分辨率。本应用笔记中给出的方法和固件适用于Medium和High-density STM32F10xxx产品。应用笔记的末尾给出了一些特定的提示，以利用Medium和High-density STM32F103xx性能线设备和High-density STM32F101xx接口线设备。本应用笔记分为两个主要部分：第一部分描述了过采样如何增加ADC指定的分辨率，第二部分描述了实现不同方法的指导方针，并给出了在STM32F101xx和STM32F103xx设备上实现它们的固件流程图。

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发布时间: 07 August, 2012

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