Agilent Technologies Maximizing MS/MS Fragmentation in the Ion Trap Using CID Voltage Ramping 技术手册

本文件介绍了在三重四极杆和离子阱质谱仪中如何优化碰撞条件,以获得良好、一致的MS/MS结果。


品牌
安捷伦
文件格式
PDF
发布时间
2012年7月5日
更新时间
2023年9月30日
MD5 校验值
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