Agilent Technologies Maximizing MS/MS Fragmentation in the Ion Trap Using CID Voltage Ramping 技术手册

更新: 30 September, 2023

本文件介绍了在三重四极杆和离子阱质谱仪中如何优化碰撞条件，以获得良好、一致的MS/MS结果。

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发布时间: 05 July, 2012

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