Agilent Performance of slide-on Attenuated Total Reflectance accessories - FT-IR Microscopy 说明书

该文件介绍了全反射微弱光谱分析技术(ATR)的原理和应用。ATR技术通过将样品直接与具有比样品折射率高得多的晶体接触,实现光的全内反射,从而简化了样品制备过程。本文通过对涂覆阿司匹林样品进行多次光谱收集,证明了ATR技术的可重复性和晶体对样品的无破坏性。


品牌
安捷伦
文件格式
PDF
发布时间
2012年6月11日
更新时间
2023年9月28日
MD5 校验值
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