Agilent Force Spectroscopy Application Note 说明书

应用笔记介绍了原子力显微镜(AFM)光谱学的基本原理和技术,并讨论了用于原子力显微镜光谱学的各种方法。该应用笔记还提供了关于如何使用AFM光谱学技术进行各种材料和应用研究的示例。


品牌
安捷伦
文件格式
PDF
发布时间
2012年6月8日
更新时间
2023年9月30日
MD5 校验值
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