DALLAS SEMICONDUCTOR DS2172 Bit Error Rate Tester (BERT) 说明书

更新: 30 September, 2023

该文档介绍了DS2172 Bit Error Rate Tester (BERT) 的特点特性，包括可生成/检测数字比特模式，以分析、评估和排除数字通信系统故障；可在DC至52MHz速度下运行；可编程多项式长度和反馈点，以生成任何其他32位长的伪随机模式，包括：26-1、29-1、211-1、215-1、220-1、223-1和232-1；可编程用户定义的模式和长度，以生成任何长度为32位的重复模式；具有大容量32位错误计数和比特计数寄存器；可软件编程的位错误插入；具有完全独立的发送和接收电路；具有8位并行控制端口；可检测比特错误率高达10-2的测试模式。

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发布时间: 21 March, 2012

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